時間:2023年4月25日星期二, 13:30—16:30
地點:綜合樓A座325
講座題目: 《大型儀器應(yīng)用技術(shù)系列專題講座(一)X射線光電子能譜儀》
主要內(nèi)容:
X射線光電子能譜儀(簡稱XPS)是廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域的高技術(shù)分析儀器,主要用于固體材料的表面(一般10 nm深度)元素成分和價態(tài)的定性和定量分析。XPS與成像功能和離子濺射刻蝕相結(jié)合,可以用于固體表面元素成分及價態(tài)的面分布和深度剖析;與離子蒸鍍或其他分子束外延技術(shù)相結(jié)合,可以進(jìn)行原位樣品的制備及分析工作。XPS在各類功能薄膜的機理研究、納米材料、高分子材料、材料的腐蝕與防護(hù)、催化劑研究與失效分析等方面具有不可替代的作用。
本次會議報告包含XPS的分析原理,XPS在化學(xué)化工、紡織材料、生物和環(huán)境工程方向的應(yīng)用,以及分析譜圖解析等。
報告人簡介:
龔沿東研究員,島津/Kratos公司XPS技術(shù)專家。1986年畢業(yè)于清華大學(xué)現(xiàn)代應(yīng)用物理系近代物理專業(yè)(理學(xué)學(xué)士)、1993年5月畢業(yè)于中國科學(xué)院金屬研究所金屬物理專業(yè)(工學(xué)碩士)。1995年1月起,任中國科學(xué)院金屬研究所結(jié)構(gòu)分析室副主任(高級工程師),1999年4月起,任中國科學(xué)院金屬研究所分析測試部主任(研究員)。1992年3月起,英國國家物理實驗室(National Physical Laboratory)訪問學(xué)者(1年),1996年12月起,美國圣母大學(xué)(University of Notre Dame)化工系研究助手(2年)。1996年3月起,任全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會委員,1999年8月起,兼任全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會表面分技術(shù)委員會委員。2005年6月起,島津公司市場部XPS和EPMA技術(shù)負(fù)責(zé)人。
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